簡介高溫老化試驗箱散熱措施

2024-08-12 15:38 林頻儀器
  高溫老化試驗箱環(huán)境溫度受電路功率影響.老化板位置的變化.烘箱網(wǎng)速變化等因素的影響導致箱內(nèi)溫度場的變化。箱內(nèi)溫度場的劇烈變化會影響產(chǎn)品的正常老化試驗,形成過應(yīng)力,嚴重時會導致電路故障。對影響設(shè)備的溫度因素進行了試驗監(jiān)測和分析,找出了影響溫度的主要原因和規(guī)律,采取了更好的散熱措施,防止老化電路過溫故障。
簡介高溫老化試驗箱散熱措施
  1.高溫老化試驗箱內(nèi)的溫場變化受老化電路功率和散熱能力(風速)的影響。該設(shè)備不僅控制電路的功率,而且改變了電路的布局。下層盡可能填充電路,逐漸從下層降低電路功率,形成功率梯度,與試驗箱風速一致,達到散熱的目的。
 
  2.試驗箱采用電熱高溫干燥試驗箱,風源來自底部。由于試驗箱承載板和老化板,風速由下而上逐漸降低。根據(jù)試驗箱風速的特點,老化板的放置方向可與試驗箱的風向一致,增加通風面積,降低風速屏障,增強高溫老化試驗箱的散熱功能。
 
  3.根據(jù)改進措施結(jié)合功率器件DC/DC電源為測試對象,溫度設(shè)置為80℃,測試電路功率65W(1)逐漸增加到5200W(8)高溫老化試驗箱電路功率520W比設(shè)定溫度高5.6℃,符合國家標準要求(8)℃或8%)。

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